鞋厂验针专用的X光机检测鞋子，之所以可以高清晰的显示断针断钉等异物的图像，是因为在图像识别领域，有效识别特征的提取是保证视觉系统识别速度和识别准确率的关键。鞋子验针X光机是直接利用图像的像素值作为识别的样本特征，基于模板的各种图像匹配识别算法，取像素点的灰度值作为分类的样本数据。即使是很小的产品目标图像，如果直接采用像素值作为样本向量，会直接的导致X光机系统识别的时间。不适用于对复杂的鞋子结构的验针识别，可以用做对图像特征的提取，以检查最小的结构尺寸为基准。鞋子验针X光机的目标图像基准点在确认后，对有效区域的图像作恰当的数学描述，以获得一组少而精的特征来作为图像的描述符，X光机就能实现对检测的鞋子与样本图像之间的匹配，进而完成检针任务。被检测物品特征的提取是模式识别与图像分析领域中最重要的，也是最基本的问题之一。鞋子验针X光机的图像中正确的选择和抽取有效特征，是解决对断针断钉等异物识别的关键，主要包括鞋子的特征选择及特征定位和特征的提取。

射线图像上两个区域之间的黑度差定义为影像的对比度，在射线影像上的对比度指的是影像黑度与背景的黑度之差。对窄束单色射线的情况，可以根据射线衰减规律推导。在实际的检测时一般都是宽束射线，因此必须考虑到散射线的影响，因此也可以推导出散射比。射线检测理论的基本公式是指导射线检测技术的基本公式，对实际检测过程中的缺陷，严格的说不能简单的应用公式进行计算，而是应考虑缺陷对射线的衰减特性。也就是缺陷引起的射线衰减远远小于同样小的被检测物本身引起的射线衰减，某个细节缺陷影像的射线对比度受到细节本身的性质和尺寸及射线检测因素、被透照物体本身的性质和尺寸等一系列因素的影响。对于一个特定的缺陷，要得到高的射线对比度就要选用可能较低能量的射线透照，来提高线衰减系数。选择适宜的透照布置使得该缺陷在透照方向具有较大的厚度差，采取措施减少散射线的强度。

目前我国已成为世界最大的鞋类生产和出口国，国内鞋类产业正在以15%的速度持续发展，中国鞋类总产量已占世界总产量的66%，成为全球最具竞争力的鞋类生产和出口贸易中心之一。
我国鞋产品出口仍保持稳步增长态势，但同时也受到几方面因素制约：一是欧盟皮鞋反倾销影响依然存在，导致我国皮鞋总体出口量呈下降态势。二是原材料价格上涨增加了企业经营成本，而鞋产品的价格却难以同步上涨，企业发展空间进一步受到挤压。三是来自越南等国的竞争压力在上升。目前巴西、越南、印度等国不断增加鞋产量，与我国鞋产品在国际市场上的形成了较强的竞争。
今后中国制鞋业的发展必然要从低端市场走向中高端市场，要从数量型向品质型和效益型转变，产业升级换代是必走之路，因而，从数量上看，中国鞋业的生产量和出口量或许今后将有所下降，但品质将得到提升，产品价格和出口总值将会不断增长。
中国制鞋业今后的发展目标应是产业的国际化，和市场的全球化。我们建议内制鞋企业加强品牌意识，实施“品牌国际化战略”，提升产品品牌附加值。同时，企业加大质量、设计等方面的科研投入，提高产品的利润率水平。以长袖善舞的优势占领国际市场空间，实现制鞋业的可持续发展。

入射射线只随穿透物体的厚度增加而按指数规律迅速衰减，在实际X射线检测中常常都是宽束射线情况。即到达探测器的射线中不仅有入射射线中未与物质作用，沿着直线方向穿透物质的一次射线，还有与物质相互作用过程中产生的散射线二次射线和散射电子。应用宽束射线时，一次透射射线和散射射线同时到达探测器，到达探测器强度减弱程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿越的厚度。单能X射线只存在理想状态下，实际应用中的单能X射线往往是窄束连续谱射线。不同能量的射线穿过同样厚度的物体时所受到的衰减并不相同，使连续谱射线的衰减规律变得复杂。如果对连续谱射线的各波长分量分别进行计算将相当复杂，因此在讨论连续谱射线的衰减规律时，常会引入一个等效波长也称为平均波长。采用这个波长对连续谱射线的衰减规律进行近似的分析计算，X射线等效波长穿过一定厚度的物体后，连续谱射线的透射射线等效波长与入射射线相比，将发生硬化现象即等效波长减小平均能量提高。

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